工业CT是工业用计算机断层成像技术的简称,它能在对检测物体无损伤的条件下,以二维断层图像或三维立体图像的形式,清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况,被誉为当今*佳无损检测和无损评估技术。
随着工业产品越来越在追求高质量的加快新产品上市的周期,对于检测手段及方式有着更高的挑战。这里,我们介绍如何利用工业CT完成某款产品的全尺寸测量。以该产品为例,要求是完成总计700多个尺寸检测,其中FAI尺寸将近300余个。(FAI=First Article Inspection 检测),按照传统使用三坐标测量机,编程时间往往需要将近两周时间,单件产品的测量需要半天。
通过工业CT扫描生成体积文件,使用 FAI尺寸编程+非FAI尺寸数模比对 两种分析方式,可以将编程时间缩短一半,单件检测时间减少至10分钟。极大地提高了产品检测效率,从而加速新产品上市速度。对标传统三坐标机测量的方式,工业CT的误差在可接受的范围内。足以证明其方式的稳定性、可靠性。
借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工业CT技术,只需一次扫描,任何人都能有效完成复杂的测量和检查任务。测量并检测接触式或光学测量系统无法检测到的隐藏缺陷和内部结构。另一个巧妙之处在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于体积小,CT扫描系统很容易便能放置于您的测量实验室之中,可以一次性完成内部测量和检查。
一个蔡司工业CT系统,兼具多种优势:
山东进口X射线授权代理商提供蔡司工业CT产品。工业CT是工业用计算机断层成像技术的简称,可以在对检测物体无损伤的条件下,展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况。蔡司工业CT技术由德国蔡司公司提供,其产品参数为:
蔡司工业CT产品是高质量的多维测量实验室和数控三坐标测量机的解决方案之一。拥有四个国家的生产基地和全球 100 多个销售和服务点,蔡司工业测量技术部是汽车行业公认的合作伙伴和供应商。其产品包括桥式、悬臂和在线测量机,用于三维的光学和接触式测量机和用于工业的电脑断层扫描技术。
蔡司工业CT产品的价格为3000000.00元/件。
工业CT与传统三坐标测量机的对比工业CT和传统三坐标测量机在测量产品尺寸上都具有一定的优势。工业CT通过扫描生成体积文件,能够有效缩短编程时间和单件检测时间,提高产品检测效率。工业CT的误差在可接受范围内,具备稳定性和可靠性。传统三坐标测量机在某些情况下可能需要更长的编程时间,并且单件产品的测量时间较长。
工业CT在全尺寸测量中的应用工业CT可以在全尺寸测量中发挥重要作用。以某款产品为例,要求完成总计700多个尺寸检测,其中FAI尺寸将近300余个。传统三坐标测量机的编程时间往往需要将近两周时间,单件产品的测量需要半天。而通过工业CT扫描生成体积文件,使用FAI尺寸编程+非FAI尺寸数模比对的方式,可以将编程时间缩短一半,单件检测时间减少至10分钟,从而加速新产品上市速度。
蔡司工业CT产品的优势蔡司工业CT产品具有多种优势。操作简便,使用ZEISS METROTOM 1的蔡司工业CT技术只需进行少量培训就能快速上手。的测量,ZEISS METROTOM 1可以测量并评估完整的零件,进行准确的数模比对、尺寸检查和壁厚分析。蔡司METROTOM 1尺寸小,适合放置于测量实验室,方便内部测量和。
问答 如何使用蔡司工业CT完成全尺寸测量?使用蔡司工业CT完成全尺寸测量的步骤如下:
- 进行工业CT扫描,生成体积文件。
- 使用FAI尺寸编程+非FAI尺寸数模比对的方式进行分析。
- 根据分析结果进行尺寸检查、数模比对和壁厚分析。
- 根据检测结果优化产品设计和制造过程,提高产品质量。
工业CT相比传统三坐标测量机的优势包括:
基于蔡司工业CT-METROTOM 的工业计算机断层扫描(CT)
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对性的高要求。
蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描(CT)系统蔡司工业CT测量机METROTOM 1500工业CT三维断层扫描极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。,您可以使用面向未来的质量控制。
蔡司工业CT测量机METROTOM 1500工业CT三维断层扫描特性
1.看得更多
在第三代系统中,新的3k检测器可生成更高分辨率的3D体数据集,即更多体素可以检测到更小的缺陷。
2.扫描更快
通过检测器的不同操作模式,扫描时间可减少多达75%,获得与2k检测器相当的体素尺寸。
3.测量与检验整体部件
蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统,用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整部件。而在利用传统测量机测量时,此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。
4.轻松且地进行多样化特征检测
利用蔡司METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常,且具可追溯性。和接触式测量方法不同,蔡司METROTOM 获取海量测量点时,时间显著缩短。
5.直观简易的软件操作
仅需通过短时间的蔡司METROTOM OS 软件培训课程,操作人员即可对零件进行扫描,透视零件的内部。通过蔡司CALYPSO和NEO软件,您可以评估CT数据,通过蔡司PiWeb,它们可以在一个测量报告中快速合并。
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